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美国拟放宽半导体测试设备输往中国大陆限制
【2004-03-04 09:21】 【】 【ChinaByte】

  ChinaByte 3月4日消息   据美国半导体交易组织Semiconductor Equipment and Materials International(SEMI) 透露,美国政府将支持一项放宽半导体测试设备输往中国大陆的提案,也有可能完全取消此限制。

  根据美国现行出口管制规定,美国自动测试设备 (ATE)制造商必须先取得政府许可,才能销售向量产生率(pattern generation rate)超过333-MHz的芯片测试设备。但分析师表示,目前测试设备的向量产生率已高达1GHz,因此这项规定显得有点过时。

  SEMI北美公共政策主管Maggie Angell表示,美国政府正考虑提案以两阶段放宽ATE出口管制,初期计划将出口至中国大陆产品的向量产生率限制提高至667- MHz,换言之,如果设备超过667MHz,ATE制造商仍需向政府申报。

  如果相关提案立法成功,对美国芯片设备产业大有助益。SEMI长期以来一直游说美国政府调整或取消对芯片制造技术输往中国大陆的限制,并表示,欧洲、日本和其他国家没有如此严苛的出口规定,这已使得美国业者在拓展大陆市场时居于劣势。(完)

【责编:朱堂良】 【发表评论
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